（恒溫恒濕試驗(yàn)箱校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)）
在日常的溫度、濕度檢測(cè)和校準(zhǔn)過(guò)程中，我們會(huì)經(jīng)常遇到各式各樣的恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備的檢測(cè)與校準(zhǔn)，其中有高溫試驗(yàn)箱(房)、干燥箱、培養(yǎng)箱、真空箱、低溫試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱(房)、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、交變濕熱試驗(yàn)箱(房)、鹽霧試驗(yàn)箱等各種環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。
在以上各式各樣的恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備檢測(cè)與校準(zhǔn)的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)也有多種多樣其中可以分為以下三類(lèi):
(1)電子工業(yè)部第五研究所編寫(xiě)的GB/T5170.1一1995《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》、GB/TS170.2-19%《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備》GB/T5170一19%《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備等》。
(2)河北省計(jì)量科學(xué)研究院.編寫(xiě)的JF1101一2003《恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》
(3)機(jī)械電子工業(yè)部編寫(xiě)的GBI1158一1989《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB一1989《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB一1899《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB-1989濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB-1989《鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等。
瑞凱恒溫恒濕試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T-1989濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB2423.1-89低溫試驗(yàn)Aa,Ab；
GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗(yàn)Ca；
MIL-STD810D方法502.2；
GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3；
GJB150.9-8濕熱試驗(yàn)；
GB2423.34-86、MIL-STD883C方法溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn)；
IEC68-2-1試驗(yàn)A；
IEC68-2-2試驗(yàn)B高低溫交變；
IEC68-2-14試驗(yàn)N等
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