（肇慶安全防爆高低溫（濕熱）試驗箱）
安全防爆高低溫（濕熱）試驗箱設(shè)備特點：
本產(chǎn)品等級：ExdeIIBT4Gb
使用于對各類易燃、易爆物品的高溫、低溫試驗，同時本設(shè)備可適用在具可燃性氣體、粉塵或混合的防爆環(huán)境下使用
本系列產(chǎn)品內(nèi)膽采用SUS304不銹鋼制作制作，外殼采用表面噴塑處理的鍍鋅鋼板制作，傳感器、加熱器、鼓風(fēng)電機均具有防爆資格證，電器裝在防爆電器柜，設(shè)備結(jié)構(gòu)造型新穎、美觀大方，制冷、電控關(guān)鍵健均采用知名品牌配件，使設(shè)備整體質(zhì)量得到保證；
可根據(jù)用戶要求定制尺寸或使用性能指標。
粘貼防爆合格證TL-a-70
設(shè)備滿足以下標準：
GB-89高低溫箱技術(shù)條件
GB高溫試驗箱技術(shù)條件；
GB低溫試驗箱技術(shù)條件；
GB技術(shù)條件
GB/T-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)節(jié)試驗規(guī)程，試驗N：溫度變化試驗方法
GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則
GJB150.3A-2009**裝備試驗室環(huán)境試驗方法（高溫試驗）
GJB150.4A-2009**裝備試驗室環(huán)境試驗方法（低溫試驗）
GJB150.9A-2009**裝備試驗室環(huán)境試驗方法（濕熱試驗）
GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法
GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法
<
<
<
<
<
<
<
<
<
<
<
<